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Low-temperature Zr mobility: An in situ synchrotron-radiation XRF study of the effect of radiation damage in zircon on the element release in H2O+HCl±SiO2 fluids

Urheber*innen
/persons/resource/hokie

Schmidt,  Christian
3.3 Chemistry and Physics of Earth Materials, 3.0 Geodynamics and Geomaterials, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum;

Rickers,  K.
External Organizations;

/persons/resource/wirth

Wirth,  Richard
3.3 Chemistry and Physics of Earth Materials, 3.0 Geodynamics and Geomaterials, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum;

Nasdala,  L.
External Organizations;

Hanchar,  J. M.
External Organizations;

Externe Ressourcen
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Volltexte (frei zugänglich)
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Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Schmidt, C., Rickers, K., Wirth, R., Nasdala, L., Hanchar, J. M. (2006): Low-temperature Zr mobility: An in situ synchrotron-radiation XRF study of the effect of radiation damage in zircon on the element release in H2O+HCl±SiO2 fluids. - American Mineralogist, 91, 8-9, 1211-1215.
https://doi.org/10.2138/am.2006.2244


https://gfzpublic.gfz-potsdam.de/pubman/item/item_234967
Zusammenfassung
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