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  Focused Ion Beam (FIB): site-specific sample preparation, nano-analysis, nano-characterization and nano-machining

Wirth, R. (2010): Focused Ion Beam (FIB): site-specific sample preparation, nano-analysis, nano-characterization and nano-machining. - In: Brenker, F. E., Jordan, G. (Eds.), Nanoscopic approaches in Earth and planetary sciences, (EMU Notes in Mineralogy; 8).

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://gfzpublic.gfz-potsdam.de/pubman/item/item_243099 Versions-Permalink: -
Genre: Buchkapitel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wirth, Richard1, Autor              
Affiliations:
13.3 Chemistry and Physics of Earth Materials, 3.0 Geodynamics and Geomaterials, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum, ou_146036              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 DDC: 550 - Earth sciences
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2010
 Publikationsstatus: Final veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 16637
GFZPOF: PT2 Earth System Dynamics: Coupled Processes and Regional Impact
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nanoscopic approaches in Earth and planetary sciences
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Brenker, F. E.1, Herausgeber
Jordan, G.1, Herausgeber
Affiliations:
1 External Organizations, ou_persistent22            
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: EMU Notes in Mineralogy ; 8
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -