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  Focused Ion Beam (FIB) combined with SEM (FIB/SEM) and TEM: Advanced tools for nano-analysis in Geosciences

Wirth, R., Morales, L. F. (2011): Focused Ion Beam (FIB) combined with SEM (FIB/SEM) and TEM: Advanced tools for nano-analysis in Geosciences, AGU 2011 Fall Meeting (San Francisco, USA 2011).

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://gfzpublic.gfz-potsdam.de/pubman/item/item_244563 Versions-Permalink: -
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wirth, Richard1, Autor              
Morales, Luiz Fernando2, Autor              
Affiliations:
13.3 Chemistry and Physics of Earth Materials, 3.0 Geodynamics and Geomaterials, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum, ou_146036              
23.2 Geomechanics and Rheology, 3.0 Geodynamics and Geomaterials, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum, ou_146035              

Inhalt

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Schlagwörter: 5-9 December, 2011. V23G-01
 DDC: 550 - Earth sciences
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2011
 Publikationsstatus: Final veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 18011
GFZPOF: PT2 Earth System Dynamics: Coupled Processes and Regional Impact
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: AGU 2011 Fall Meeting (San Francisco, USA 2011)
Veranstaltungsort: -
Start-/Enddatum: -

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: AGU 2011 Fall Meeting (San Francisco, USA 2011)
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -