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  High resolution temperature and spectral emissivity mapping (HiTeSEM)

Udelhoven, T., Bossung, C., Rock, G., Fischer, P., Müller, A., Storch, T., Segl, K., Eisele, A., Schlerf, M., Knigge, T. (2016): High resolution temperature and spectral emissivity mapping (HiTeSEM). - In: 2016 IEEE International Geoscience & Remote Sensing Symposium: proceedings: July 10-15, 2016, Beijing, China, Piscataway, NJ  : IEEE, 272-275.
https://doi.org/10.1109/IGARSS.2016.7729062

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Urheber

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 Urheber:
Udelhoven, T.1, Autor
Bossung, C.1, Autor
Rock, G.1, Autor
Fischer, P.1, Autor
Müller, A.1, Autor
Storch, T.1, Autor
Segl, K.2, Autor              
Eisele, A.2, Autor              
Schlerf, M.1, Autor
Knigge, T.1, Autor
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
21.4 Remote Sensing, 1.0 Geodesy, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum, ou_146028              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2016
 Publikationsstatus: Final veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: GFZPOF: p3 PT1 Global Processes
DOI: 10.1109/IGARSS.2016.7729062
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 2016 IEEE International Geoscience & Remote Sensing Symposium : proceedings : July 10-15, 2016, Beijing, China
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Piscataway, NJ : IEEE
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 272 - 275 Identifikator: -