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Konferenzbeitrag

X-ray Raman scattering studies of Si based compounds under extreme conditions

Urheber*innen

Sahle,  C. J.
External Organizations;

Sternemann,  C.
External Organizations;

Tse,  J. S.
External Organizations;

/persons/resource/max

Wilke,  Max
3.3 Chemistry and Physics of Earth Materials, 3.0 Geodynamics and Geomaterials, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum;

/persons/resource/hokie

Schmidt,  Christian
3.3 Chemistry and Physics of Earth Materials, 3.0 Geodynamics and Geomaterials, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum;

Nyrow,  A.
External Organizations;

Dubrail,  J.
External Organizations;

Giordano,  V.
External Organizations;

Simonelli,  L.
External Organizations;

Desgreniers,  S.
External Organizations;

Tolan,  M.
External Organizations;

Externe Ressourcen
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Volltexte (frei zugänglich)
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Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Sahle, C. J., Sternemann, C., Tse, J. S., Wilke, M., Schmidt, C., Nyrow, A., Dubrail, J., Giordano, V., Simonelli, L., Desgreniers, S., Tolan, M. (2010): X-ray Raman scattering studies of Si based compounds under extreme conditions, 7th International Conference on Inelastic X-ray Scattering - IXS 2010 (Grenoble, France 2010).


https://gfzpublic.gfz-potsdam.de/pubman/item/item_242290
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar