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Konferenzbeitrag

Die Ursachen elektrischer Leitfähigkeitsanomalien in der KTB, eine Analyse mit multivariater Statistik

Urheber*innen

Winter,  H.
17. Kolloquium, 1998, Schmucker-Weidelt-Kolloquium für Elektromagnetische Tiefenforschung EMTF, External Organizations;

Rauen,  A.
17. Kolloquium, 1998, Schmucker-Weidelt-Kolloquium für Elektromagnetische Tiefenforschung EMTF, External Organizations;

Soffel,  H.
17. Kolloquium, 1998, Schmucker-Weidelt-Kolloquium für Elektromagnetische Tiefenforschung EMTF, External Organizations;

Externe Ressourcen
Volltexte (frei zugänglich)
Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Winter, H., Rauen, A., Soffel, H. (1998): Die Ursachen elektrischer Leitfähigkeitsanomalien in der KTB, eine Analyse mit multivariater Statistik. - In: Junge, A., Bahr, K. (Eds.), - Protokoll über das Kolloquium Elektromagnetische Tiefenforschung: 17. Kolloquium: Neustadt an der Weinstraße, 9.3.-13.3.1998, 17. Kolloquium „Elektromagnetische Tiefenforschung“ (Neustadt an der Weinstraße 1998), 12-20.


Zitierlink: https://gfzpublic.gfz-potsdam.de/pubman/item/item_5007846
Zusammenfassung
Die Frage nach den Ursachen der Zonen hoher elektrischer Leitfähigkeit in der KTB-Hauptbohrung wurde mit der Faktorenanalyse, einem deskriptivem Verfahren der multivariaten Statistik, untersucht. Die Ergebnisse in dem Bohrlochabschnitt von 290 bis 7140 m und den einzelnen Zonen hoher elektrischer Leitfähigkeit um 2000 m bzw. 7800 m weisen auf abschnittsweise unterschiedliche Zusammenhänge zwischen den sechs untersuchten Parametern hin. Die elektrische Leitfähigkeit in der Zone bei 2000 m korreliert deutlich mit Graphit, Sulfiden und Kataklasiten. Bei der Zone um 7800 m ist die LLD-Leitfähigkeit um eine Größenordnung höher als in der Zone um 2000 m. Im Faktorladungsplot zeigt sich hier, daß auch die salinaren Fluide und die durch die magnetische Suszeptibilität repräsentierten M:inerale Magnetit und Pyrrhotin eine Bedeutung haben können. Möglicherweise wird diese Zone hoher elektrischer Leitfähigkeit durch das Zusammenwirken der Komponenten in ihrer Gesamtheit verursacht. Zur Quantifizierung sind weitere Untersuchungen der vorhandenen Daten mit verschiedenen statistischen Verfahren vorgesehen.