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Buchkapitel

Sputtered Germanium Films as an internal standard for quantitative X-ray fluorescence analysis of thin film samples

Urheber*innen

Feuerborn,  J.
External Organizations;

Knöchel,  A.
External Organizations;

Meyer,  A.-K.
External Organizations;

Lechtenberg,  F.
External Organizations;

Falkenberg,  G.
External Organizations;

Rickers,  K.
External Organizations;

Externe Ressourcen
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Ergänzendes Material (frei zugänglich)
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Zitation

Feuerborn, J., Knöchel, A., Meyer, A.-K., Lechtenberg, F., Falkenberg, G., Rickers, K. (2002): Sputtered Germanium Films as an internal standard for quantitative X-ray fluorescence analysis of thin film samples. - In: Jahresbericht / Hamburger Synchrotronstrahlungslabor HASYLAB am Deutschen Elektronen-Synchrotron DESY = Annual report, HASYLAB, 911-912.


https://gfzpublic.gfz-potsdam.de/pubman/item/item_231825
Zusammenfassung
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