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Konferenzbeitrag

Focused Ion Beam (FIB) combined with SEM (FIB/SEM) and TEM: Advanced tools for nano-analysis in Geosciences

Urheber*innen
/persons/resource/wirth

Wirth,  Richard
3.3 Chemistry and Physics of Earth Materials, 3.0 Geodynamics and Geomaterials, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum;

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Morales,  Luiz Fernando
3.2 Geomechanics and Rheology, 3.0 Geodynamics and Geomaterials, Departments, GFZ Publication Database, Deutsches GeoForschungsZentrum;

Externe Ressourcen
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Volltexte (frei zugänglich)
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Ergänzendes Material (frei zugänglich)
Es sind keine frei zugänglichen Ergänzenden Materialien verfügbar
Zitation

Wirth, R., Morales, L. F. (2011): Focused Ion Beam (FIB) combined with SEM (FIB/SEM) and TEM: Advanced tools for nano-analysis in Geosciences, AGU 2011 Fall Meeting (San Francisco, USA 2011).


https://gfzpublic.gfz-potsdam.de/pubman/item/item_244563
Zusammenfassung
Es ist keine Zusammenfassung verfügbar